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Sievers液体采样常见问题解答
化学发光检测器可能出现的可能问题列表。如果未在下面列出问题或需要帮助，请联系GE Analytical Instruments。
- 低灵敏度
-
可能的原因 需要采取的行动 肮脏的反应室 干净的反应室。
堵塞限制器 清洁或更换板条限制器。 清除系统泄漏 对于VCL3试剂，检查试剂真空蒸馏液是否进行，如果没有确认NaOH陷阱上的Teflon袖子很紧。
更换隔膜。
确认Swagelok连接紧密，有拟曲线，并且配件中没有玻璃。
确认与过滤器的连接紧密。清除气流太高或太低 记录电池压力时，当Frit限制器向大气开放时（断开过滤线），然后在将吹扫系统连接到FRIT限制器时调整针阀以匹配细胞压力。 疏水过滤器堵塞 清洁或更换过滤器。 水浴温度太低（VCL3试剂） 将水浴设置为95°C。 - 可重复性差
-
可能的原因 需要采取的行动 清除系统泄漏 看上面。
注射器污染或泄漏 清洁注射器和针（不应在注射空注射器上没有峰值）。更换注射器。 未注入试剂的样品（用于µL体积） 调整试剂的体积，使针的末端低于试剂水平。 - VCL3试剂真空蒸馏
-
可能的原因 需要采取的行动 清除流量太低 调整流量以匹配板条限制器时的电池压力
- 高基线或上升基线
-
可能的原因 需要采取的行动 清除系统泄漏 看上面。
肮脏的清洗船 用实验室洗涤剂清洁清洗容器。 注射材料缓慢转换为NO（例如，使用VCL时，L-NAME或其他硝基化合物3试剂） 含硝基抑制剂（l-name，硝基 - 精氨酸，7-硝基唑）不能与VCL一起使用3试剂。
更换试剂。
- 观察到没有注射的峰
-
可能的原因 需要采取的行动 清除系统泄漏 请参阅上文，还要检查从清洗气体调节器到清除容器的管道中的泄漏
试剂中的污染 有时会看到VCL的峰值3由于污染而引起的试剂；让试剂清除10-15分钟。
Sievers液体采样常见问题解答
化学发光检测器可能出现的可能问题列表。如果未在下面列出问题或需要帮助，请联系GE Analytical Instruments。
- 低灵敏度
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可能的原因 需要采取的行动 肮脏的反应室 干净的反应室。
堵塞限制器 清洁或更换板条限制器。 清除系统泄漏 对于VCL3试剂，检查试剂真空蒸馏液是否进行，如果没有确认NaOH陷阱上的Teflon袖子很紧。
更换隔膜。
确认Swagelok连接紧密，有拟曲线，并且配件中没有玻璃。
确认与过滤器的连接紧密。清除气流太高或太低 记录电池压力时，当Frit限制器向大气开放时（断开过滤线），然后在将吹扫系统连接到FRIT限制器时调整针阀以匹配细胞压力。 疏水过滤器堵塞 清洁或更换过滤器。 水浴温度太低（VCL3试剂） 将水浴设置为95°C。 - 可重复性差
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可能的原因 需要采取的行动 清除系统泄漏 看上面。
注射器污染或泄漏 清洁注射器和针（不应在注射空注射器上没有峰值）。更换注射器。 未注入试剂的样品（用于µL体积） 调整试剂的体积，使针的末端低于试剂水平。 - VCL3试剂真空蒸馏
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可能的原因 需要采取的行动 清除流量太低 调整流量以匹配板条限制器时的电池压力
- 高基线或上升基线
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可能的原因 需要采取的行动 清除系统泄漏 看上面。
肮脏的清洗船 用实验室洗涤剂清洁清洗容器。 注射材料缓慢转换为NO（例如，使用VCL时，L-NAME或其他硝基化合物3试剂） 含硝基抑制剂（l-name，硝基 - 精氨酸，7-硝基唑）不能与VCL一起使用3试剂。
更换试剂。
- 观察到没有注射的峰
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可能的原因 需要采取的行动 清除系统泄漏 请参阅上文，还要检查从清洗气体调节器到清除容器的管道中的泄漏
试剂中的污染 有时会看到VCL的峰值3由于污染而引起的试剂；让试剂清除10-15分钟。